ATEによるDCテストの入門：半導体の量産工場における評価・検査向けテスト技術


　　　　　

・サンプリングによる周波数帯域と分解能
　　１．基本波と周波数分解能の関係
　　２．周波数帯域と分解能の関係
　　３．最大周波数と周波数分解能の関係


・フーリエ変換による周波数分析の分解能と測定機関の関係


・測定期間における周波数帯域と分解能の関係


・サンプリング周波数で決まるものと前サンプル数で決まること


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