電子・半導体デバイスの生産工場における評価・検査向けACテストの基礎技術
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RF変調波形のEVM評価法
半導体テスト技術：DCテストの校正と補正
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RF変調波形のEVM評価法
１ EVMの定義
２ EVMの基本測定例
３ ATEによる側定応用例
４ EVMの不良解析フロー
５ RFパワーアンプのEVM測定手法
RF変調波形のEVM評価法関連コンテンツ
RFパワーアンプの伝達関数の測定例
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RFパワーアンプの伝達関数の測定例
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RFのCAEによるモデルと変復調方式のテスト比較
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DCテストの基礎
定電流源と定電圧源
差動電圧測定
４端子（ケルビン）接続
ATEによる接続例
シーケンスDC測定の基本動作と構成
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オペアンプの基本構成
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ＡＴＥテスト並列化の歩み
テスタの同時測定（効率化を含む）の歩み
テスタの同時測定（ＤＣリソース）の歩み
テスタの同時測定（ＡＣリソース）の歩み
マルチサイト対応ソフトの構成
テスト時間短縮のための基礎技術
バックグラウンド処理
シングルポートとデュアルポートメモリ
時分割の信号処理
周波数分割の信号処理
主要テスタの構成
Tester１のテスト構成
Tester２のテスト構成
Tester３のテスト構成
Tester４のテスト構成
Tester５のテスト構成
ローエンドテスタの構成
ローエンドテストの基礎技術①
ローエンドテストの基礎技術②
ローエンドテストの基礎技術③
テスタのためのデジタル信号処理入門
デジタル信号処理とは その１
デジタル信号処理とは その２
サンプリングによる周波数帯域と分解能
データー取得後のデータ処理
周期性と窓関数
ACテストの基礎 アナログ法
ピーク値、平均値、実効値
波形の比較を定義
デシベルの定義
ゲイン
ゲイン：入出力電圧比
電圧メータ：VU計
ゲイン測定
低レベル入力のゲイン測定
周波数特性測定（入力固定）
周波数特性測定（出力固定）
S/N比測定
S/N比測定（聴感補正）
歪率測定（全高調波：周波数選択）
歪率測定（全高調波：周波数可変）
混変調歪測定（CCIF法）
クロストーク測定
RF変調波形のEVM評価法
EVMの定義
EVMの基本測定例
ATEによる側定応用例１
ATEによる側定応用例２
EVMの不良解析フロー
RFデバイスの新しいEVM測定手法
RFのCAEによるモデルの評価・量産テスト
RFパワーアンプのモデルによるEVM測定手法
RFパワーアンプの伝達関数のモデル
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RFのCAEによるモデルと変復調方式の比較
組み込みメモリテスト
アルゴリズミックパターン例
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