電子・半導体デバイスの生産工場における評価・検査向けDCテストの基礎技術
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オペアンプの基本構成
オペアンプの基本構成
（差動増幅、ダーリントン接続、電力増幅）
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１．１ オペアンプの基本構成
オペアンプの基本構成 （差動増幅、ダーリントン接続、電力増幅）
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DCテストの基礎
定電流源と定電圧源
差動電圧測定
４端子（ケルビン）接続
ATEによる接続例
シーケンスDC測定の基本動作と構成
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マルチサイト対応ソフトの構成
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テスタのためのデジタル信号処理入門
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サンプリングによる周波数帯域と分解能
データー取得後のデータ処理
周期性と窓関数
ACテストの基礎 アナログ法
ピーク値、平均値、実効値
波形の比較を定義
デシベルの定義
ゲイン
ゲイン：入出力電圧比
電圧メータ：VU計
ゲイン測定
低レベル入力のゲイン測定
周波数特性測定（入力固定）
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S/N比測定
S/N比測定（聴感補正）
歪率測定（全高調波：周波数選択）
歪率測定（全高調波：周波数可変）
混変調歪測定（CCIF法）
クロストーク測定
RF変調波形のEVM評価法
EVMの定義
EVMの基本測定例
ATEによる側定応用例１
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EVMの不良解析フロー
RFデバイスの新しいEVM測定手法
RFのCAEによるモデルの評価・量産テスト
RFパワーアンプのモデルによるEVM測定手法
RFパワーアンプの伝達関数のモデル
RFパワーアンプの伝達関数の測定例
RFのCAEによるモデルと変復調方式の比較
組み込みメモリテスト
アルゴリズミックパターン例
テスタ構成例
失敗を重ねないために
失敗しても安全に
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危なくなったら働く仕掛け
右脳を活用するとは？
テストパッケージの開発に応用
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